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2025年2月27日，以“机器视觉与AI赋能泛半导体制造产业发展大会”为主题的VisionCon视觉系统设计技术会议，在合肥成功举办。

会议聚焦机器视觉与AI在泛半导体制造各环节的创新应用，汇聚多方行业专家和企业代表，旨在交流机器视觉、AI技术的最新进展，推动泛半导体制造产业智能化、高效化发展。

会议期间，埃科光电光学工程师唐俊峰博士带来了一场精彩的主题演讲——《亚微米检测精度光学传感器在半导体缺陷检测中的应用》，详细介绍了埃科光电自主研发的光学传感器：智能对焦传感器和线光谱共焦传感器。

智能对焦传感器（IFU-S6）采用线激光辅助主动对焦技术，通过采集对应样品表面反射的激光信号，主动感知物镜到对焦样品表面的距离，并根据物镜的离焦状态实时确定并输出运动机构的控制信号，控制物镜运动到对焦位置，保证成像系统始终采集到高对比度图片。

该系统具有对焦范围大、对焦精度高、对焦速度快的优点，可满足显示面板、半导体、PCB、生物医疗等领域的亚微米级高精度检测需求。

埃科线光谱共焦传感器系列，基于同轴式光谱共聚焦技术开发而成，提供高达30KHz扫描速度、最大测量视野10.2mm，X方向分辨率可达1.9um，Z方向重复精度可达50nm，具有高精度、高速度、多功能、无接触在线检测等优势，为半导体、消费电子和动力电池等精密制造行业提供卓越检测方案。

演讲现场气氛热烈非凡，唐俊峰博士与参会嘉宾积极互动、深入交流。大家围绕高速自动对焦技术的最新突破及实际应用展开了充分探讨，埃科光电的技术成果赢得了在场嘉宾的广泛关注与高度认可，进一步提升了埃科光电在行业内的知名度和影响力。

此次参会，不仅展示了埃科光电在光学传感器领域的技术实力，更为行业发展注入了新的活力。未来，埃科光电会继续坚持创新，进军“无人区”，探索未来“卡脖子”难题，盼与更多伙伴携手，助力全球制造业智能化升级。

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